如何制作標準的ICT測試程序

注意事項:
一.一般情況下不允許修改r 的標準值（電阻并聯電阻除外）
二.修改程式的上下范圍必須按以下的標準執行 .
ü跳線﹑ connecter ﹑fuse﹑電感﹑排感 ﹕
以j測試﹐ exp-v用1表示﹐+-10% ﹐mode為 0 ﹐無guarding ， 無 offset 。
跳線﹕ 當pin-pin間有跳帽時﹐exp-v用1表示﹐否則pin-pin間測試exp-v采用4表示。
開關探針﹕ 以j測試﹐ exp-v用1表示+-10% ﹐mode為 0
ü電阻﹑排阻 ﹕
1﹑0 ω ﹕按3 ω 為標準﹐+10%﹐-1%﹔或按j測試﹐mode為1﹐無offset﹐+-10%
2﹑2.2 ω :+60%﹐-30%﹐一般不采用mode3﹐無guarding
3﹑4.7 ω :+40%﹐-20%﹐一般不采用mode3 , 無guarding
4﹑10.0 ω ﹕+15%﹐-10%﹐一般不采用mode3﹐可根據各機臺稍加offset
5﹑10. 0ω 以上﹕+-10%﹐一般不采用mode3 ﹐不加 offset
6﹑熱敏電阻﹕可適當放寬范圍 , 一般不采用mode3﹔
7﹑電阻并聯﹐可按并聯值(r 1 *r 2 )/(r 1 +r 2 )作標準值﹔+-10%一般不采用mode3
8﹑nc元件﹕一般50kω為標準值﹐+lim:-1% ﹐-lim﹕10% ﹐有并聯除外
9﹑并聯 ic 時﹐100k以上電阻+lim﹕+10%﹔-lim﹕可稍放寬
10﹑ nopin的電阻可適當考慮用串聯的方式進行測試﹐ 小電阻并聯大電阻相差20倍時﹐大電阻不予測試﹔
11﹑蜂鳴器﹕做電阻測試﹐exp-v采用44ohm （據實際情況） ﹐+-10%﹐無 guarding ﹐ 一般不采用mode3
12﹑fet管作電阻測試﹕mode 一定 為5﹐+20%﹐ -10% ﹔也可直接選用type:qf,mode:22或23
13﹑對測試極不穩定的電阻﹐可按pca上實際電阻量測值作為exp-v或根據線路圖分析﹔
14﹑bom-v一律根據bom進行填寫。
15﹑可調電阻﹐以較大值測試﹐+-10% ；或取中間值測試，+-50%。
ü電容、排容﹕
1.10pf或10pf以下電容﹐測試會極不穩定﹐exp-v可加大到30pf或50pf﹐+50%,-40%,也可依實際情況定exp-v﹐offset定好后不允許隨意更改﹔ 具體依debug原則﹔
2.10pf以上﹐1nf以下﹐+45%,-35%,offset定好后不允許隨意更改﹔mode參見debug原則﹔
3.exp-v﹕1nf~99nf﹐+45%,-35%,mode參見debug原則﹔
4.exp-v﹕100nf﹕+70%,-30%﹐ 無offset ,mode參見debug原則﹔
5.exp-v﹕1uf﹕+40%,-30%﹐ 無offset ,mode參見debug原則﹔
6.exp-v﹕10uf以上﹐470uf以下﹐+-30%﹐mode參見debug原則﹔
7.exp-v﹕470uf以上﹐+-20%﹐
8.并聯電容exp-v=c 1 +c 2 + …… +c n ﹐
9.nc元件﹕可以不進行測試﹔
10.fet管作電容測試﹕exp-v約2~10nf﹐+20%﹐-15%﹐exp-v定下后不能隨意更改﹔
11.bom-v一律根據bom進行填寫﹔nc元件bom-v為0u﹔
12.小電容并大電容﹐相差20倍以上﹐小電容可以不予測試 (c 1 /(c 1 +c 2 +…c n ))<=5%) 。
13.微法級電容的電容值小於 1000uf ， mode4的測試會比 mode8 來得好且速度也較快;
14.較大微法級電容值測試不穩時﹐可以加放電﹔
15.當規定的limit 與 bom上規定的 小時 ﹐一律依據bom作為標準。
16.電容極性測試：必加三端測試針，mode8、18。exp-v：0.2v,g以*三腳為g。
17.實際值以 5v ～ 10v 量測時，標準值之漏電流值約 0.2ma ～ 0.5ma ，若反插時 , 其反向漏電流值會遠大於正向漏電流值。高點之腳號即是電容＋端之測試針號碼 , 而低點之腳號即是電容－端之測試針號碼，通常須加較大的延遲時間，漏電流才會穩定。
ü電感﹕ 除了作j測試外﹐電感主要以l測試﹐+-30%
ü二極體﹕
1.發光二極管用d作type﹐mode用1或 24﹐當用24mode時﹐exp-v為1. 5v 不允許交換高低點﹐ 偏差 +-30% （把管子點亮）
2.每個二極管分作兩步測試﹕高﹑低點互調測試﹐不允許交換高低點和修改exp-v, 范圍依(1)規定。
ü三極管﹕
1.以 q 測試﹕+-30% ﹐ 具體參考 debug原則 ﹐ 不允許交換高低點
2.以qh為type的三端測試﹐+-30%﹐ 具體參考 debug原則﹐ 不允許交換高低點
3.以上3種方法測試必須同時使用﹔選用mode時必須參考其實際為pnp還是npn
4.nc時﹐采用type:qn測試﹐ bom-v﹕0.7v﹐ exp-v為0.7v左右﹐+-30 %
üfet管﹕
1.以qf為type﹐量測漏電流 ids ﹐ bom-v依線路圖提供的電壓供給﹐ +-30%﹐不允許交換高低點﹐其guardingpin為g。
2.以qf為type﹐量測漏電流 vds ﹐ bom-v依線路圖提供的電壓供給﹐+30%﹐-1%﹐exp-v:0.2v, 不允許交換高低點 ﹐ 其guardingpin為g 。
3.還 必須同時采用電阻 或 電容測試﹔不允許交換高低點
üclampingdiode
1.對gnd量測﹐+-30%﹐mode為2﹐ guarding pin以它本身學到的為準﹐ 不允許交換高低點﹔
2.對vcc量測﹐+-30%﹐mode為2﹐ guarding pin以它本身學到的為準﹐ 不允許交換高低點﹔
3.測試不穩定時﹐可加放電或4ms以內的延遲或重測。
4.當標準樣板測試值小于0.1v時﹐可以0.1v為exp-v﹐+30%,-1%﹔
5.對于較脆弱的clampingdiode,可根據實際情況決定其是否測試
6.如有幾種料導致無法測試時﹐可舍測其中一種。
üicopen﹕ 學習好的icopen接受值﹐其limit為+80%﹐-40%﹐之中不能加放電﹐單片測試值如與整體統計值偏差較大時﹐應找其他原因﹐不能改動設定值。
ü其他﹕ a: 78l05做三極管測試 1#﹔b:加測 網卡12﹑13腳對地阻抗﹔c﹕加測pwm測試阻抗﹔
ünotes﹕電阻﹑connector上的排針﹑感﹑二極管可電測率應盡量保持在**。
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